首页/ 上海利扬创芯片测试有限公司/ 专利详情

一种射频开关芯片测试系统

基本信息

申请号 CN201921535674.6 申请日 -
公开（公告）号 CN210112015U 公开（公告）日 2020-02-21
申请公布号 CN210112015U 申请公布日 2020-02-21
分类号 H04B17/15;H04B17/29 分类 电通信技术;
发明人 蒋礼;文亚东;袁俊;张亦锋;辜诗涛 申请（专利权）人 上海利扬创芯片测试有限公司
代理机构 东莞市华南专利商标事务所有限公司 代理人 上海利扬创芯片测试有限公司
地址 201800 上海市嘉定区永盛路2229号3幢1层、2层
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及一种射频开关芯片测试系统，其中，矢量信号收发仪的输出端连接至第一多路开关的其中一个接线端，第一多路开关的另一个接线端与矢量网络分析仪的输出端连接，第一多路开关的公共端与被测射频开关芯片的公共端连接，被测射频开关芯片的各个接线端与第二多路开关的各个接线端分别对接；第二多路开关与第三多路开关的公共端相互对接，第三多路开关的第一路接线端连接矢量网络分析仪的输入端，第二路接线端经衰减器连接至第四多路开关的接线端，第三路接线端与第四多路开关的另一接线端相接，第四多路开关的公共端与矢量信号收发仪的输入端相接；控制器与被测射频开关芯片通讯连接，并分别电连接各个多路开关的受控端和人机交互设备。