一种LED驱动芯片测试系统
基本信息
| 申请号 | CN201820636483.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN208780781U | 公开（公告）日 | 2019-04-23 |
| 申请公布号 | CN208780781U | 申请公布日 | 2019-04-23 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘伟 | 申请（专利权）人 | 上海利扬创芯片测试有限公司 |
| 代理机构 | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 上海利扬创芯片测试有限公司 |
| 地址 | 201800 上海市嘉定区永盛路2229号3幢1层、2层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供了一种LED驱动芯片测试系统，包括依次连接的计算机、测试机和通讯板，所述通讯板设有多个通讯接口，每个通讯接口连接一个用于驱动LED驱动芯片的驱动器，通讯板能将多个LED驱动芯片的实际工作波形整合成一个测试信号，然后将测试信号传送至测试机中，根据计算机中预设的LED驱动芯片的理论工作波形进行测试，从而实现对多个LED驱动芯片同时进行测试，提高了芯片的测试效率。 |
