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一种多径环境下RFID标签性能测试装置

基本信息

申请号 CN202020233893.5 申请日 -
公开（公告）号 CN211955691U 公开（公告）日 2020-11-17
申请公布号 CN211955691U 申请公布日 2020-11-17
分类号 G01R31/00(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 黄钰;蒙秀耀;章学周;胡冶;李远朝;金玮;邵晖 申请（专利权）人 上海聚星仪器有限公司
代理机构 上海正旦专利代理有限公司 代理人 上海聚星仪器有限公司;江苏省质量和标准化研究院
地址 201203上海市浦东新区张东路1387号（张江集电港二期）10幢02号3楼
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及一种多径环境下RFID标签性能测试装置，由接收天线、射频接收器、测量与应答处理器、多径模拟器、射频发射器、发射天线和标签组成，接收天线输入端接收标签反射无线电波，输出端通过馈线连接射频接收器输入端，射频接收器输出端连接测量与应答处理器输入端，测量与应答处理器输出端连接多径模拟器输入端，多径模拟器输出端连接射频发射器输入端，射频发射器输出端连接发射天线输入端，发射天线输出端连接标签输入端。本实用新型解决了传统RFID标签性能测试仪器无法分析标签在多径环境下的通信性能的问题，该实用新型可用于协助研究RFID标签的抗干扰技术。该实用新型由模块化仪器构成，系统的升级更换与维修非常方便。