一种调节扩散气氛的一次扩散工艺
基本信息
申请号 | CN201711057793.0 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN109755113A | 公开(公告)日 | 2021-08-10 |
申请公布号 | CN109755113A | 申请公布日 | 2021-08-10 |
分类号 | H01L21/22;H01L21/225;H01L21/324 | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 黄志焕;李亚哲;梁效峰;王浩;徐长坡;陈澄;杨玉聪;王晓捧 | 申请(专利权)人 | TCL环鑫半导体(天津)有限公司 |
代理机构 | 天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人 | 栾志超 |
地址 | 300380 天津市西青区华苑产业区(环外)海泰东路12号A座二层 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供一种调节扩散气氛的一次扩散工艺,包括将涂源后的硅片设于扩散炉中按照扩散曲线进行扩散,在扩散过程中通入一定比例的氮气和氧气。本发明的有益效果是由于采用上述技术方案,通过调节硅片在扩散过程中,尤其是升温过程中氮气与氧气的比例来控制硅片扩散后结深、TRR、硅片表面方块电阻以及后道的正向电压的测试结果,使得硅片更加满足不同使用需求,使得硅片的结深、TRR、硅片表面方块电阻以及后道的正向电压的数值可以有效控制,已得到需要的硅片,使得硅片扩散操作性高,简单方便。 |
