一种半导体测试中用于唯一码校验的方法及系统
基本信息
| 申请号 | CN202110659511.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113434570A | 公开（公告）日 | 2021-09-24 |
| 申请公布号 | CN113434570A | 申请公布日 | 2021-09-24 |
| 分类号 | G06F16/2458（2019.01）I;G06F16/28（2019.01）I;G06F16/22（2019.01）I;G01R31/28（2006.01）I;G08B21/18（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 苏广峰;姜伟伟 | 申请（专利权）人 | 安测半导体技术（江苏）有限公司 |
| 代理机构 | 北京文苑专利代理有限公司 | 代理人 | 于利晓 |
| 地址 | 225000江苏省扬州市高新技术产业开发区南区创富工厂1号楼1-5层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种半导体测试中用于唯一码校验的方法及系统，该方法包括：多台测试机均运行测试程序，对芯片进行测试；每台测试机的测试程序在测试过程中，将每一个唯一码均发送给服务器；服务器接收唯一码，将接收的唯一码存入数据库，通过数据库校验唯一码的唯一性；当唯一码有重复时，发出报警信息。本申请提高了唯一码校验的效率，节省了大量测试时间，提升了芯片测试效率。 |
