一种半导体测试方法及装置
基本信息
| 申请号 | CN202110837437.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113484731A | 公开（公告）日 | 2021-10-08 |
| 申请公布号 | CN113484731A | 申请公布日 | 2021-10-08 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 苏广峰;姜伟伟 | 申请（专利权）人 | 安测半导体技术（江苏）有限公司 |
| 代理机构 | 北京文苑专利代理有限公司 | 代理人 | 于利晓 |
| 地址 | 225000江苏省扬州市高新技术产业开发区南区创富工厂1号楼1-5层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种半导体测试方法及装置，该方法包括：采集芯片当前多点位频率值信息；将多点位频率值信息传递给外部运算服务；外部运算服务执行复杂矩阵运算，得到符合条件的补偿系数；外部运算服务返回符合条件的补偿系数给测试程序；测试程序将符合条件的补偿系数烧录进芯片NVM存储区；再次采集芯片多点位频率值信息，确认补偿结果。本申请将复杂矩阵算法从原有测试程序剥离，摆脱了原测试程序的软硬件限制。本申请缩短了软件开发的时间，降低了开发的难度，提高了芯片测试的效率和正确性。 |
