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一种集成电路测试数据分析方法及系统

基本信息

申请号 CN202011328711.3 申请日 -
公开（公告）号 CN112346920A 公开（公告）日 2021-02-09
申请公布号 CN112346920A 申请公布日 2021-02-09
分类号 G06F11/22(2006.01)I 分类 计算；推算；计数;
发明人 苏广峰;姜伟伟 申请（专利权）人 安测半导体技术（江苏）有限公司
代理机构 北京文苑专利代理有限公司 代理人 周会
地址 225000江苏省扬州市高新技术产业开发区南区创富工厂1号楼1-5层
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供了一种集成电路测试数据分析方法及系统，该方法包括：测试机解析被测试的第一集成电路的第一测试数据，并发送给分析数据库；分析数据库接收、存储第一测试数据；分析设备从分析数据库中抓取第一测试数据，计算第一集成电路的性能参数；分析设备从分析数据库中抓取基准测试数据，计算基准性能参数，基准测试数据为第一测试数据之前的m批测试数据，m批测试数据依次相邻，且m批测试数据中有一批测试数据与第一测试数据相邻，m为正整数；分析设备根据被测试的第一集成电路的性能参数、基准性能参数确定第一集成电路是否为良品。本申请实现了对关键指标(良率，BIN别等)的动态分析，提高了芯片测试的准确度和效率。