首页/ 安测半导体技术（江苏）有限公司/ 专利详情

一种芯片测试监控方法及服务器

基本信息

申请号 CN202010721249.7 申请日 -
公开（公告）号 CN111880079A 公开（公告）日 2020-11-03
申请公布号 CN111880079A 申请公布日 2020-11-03
分类号 G01R31/28(2006.01)I;G06F16/23(2019.01)I 分类 测量；测试;
发明人 姜伟伟 申请（专利权）人 安测半导体技术（江苏）有限公司
代理机构 北京文苑专利代理有限公司 代理人 安测半导体技术（江苏）有限公司
地址 225000江苏省扬州市高新技术产业开发区南区创富工厂1号楼1-5层
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供了一种芯片测试监控方法及服务器，该方法包括：服务器逐台扫描芯片测试机；服务器查询数据库，获取当前测试数据以及当前测试产品型号，数据库中存储有测试机实时发送给数据库的测试数据；服务器查询产品数据库，获取当前测试产品的卡关条件及标准；比对当前测试数据与卡关条件及标准，如果超标，则触发报警机制。本申请对芯片测试过程中产生的测试数据实时监控分析，一旦发现超标则触发立即报警事件，对测试机立即停机，避免大量的异常测试造成芯片批量报废。