一种半导体测试程序阈值更新的方法及系统
基本信息
| 申请号 | CN202110770207.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113407219A | 公开（公告）日 | 2021-09-17 |
| 申请公布号 | CN113407219A | 申请公布日 | 2021-09-17 |
| 分类号 | G06F8/65（2018.01）I;G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 苏广峰;姜伟伟 | 申请（专利权）人 | 安测半导体技术（江苏）有限公司 |
| 代理机构 | 北京文苑专利代理有限公司 | 代理人 | 于利晓 |
| 地址 | 225000江苏省扬州市高新技术产业开发区南区创富工厂1号楼1-5层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种半导体测试程序阈值更新的方法及系统，该方法包括：测试机对芯片进行测试，解析测试数据，将解析后的测试数据上传给服务器；服务器接收解析后的测试数据，将接收的测试数据保存到服务器的数据库中；根据取样参数从数据库中提取样本值，根据样本值得到第一动态阈值和第二动态阈值；获取第一动态阈值和第二动态阈值；将芯片测试的量测值与第一动态阈值和第二动态阈值进行比较，判断芯片为良品还是不良品。本申请为车规/军工等大量需求高可靠性芯片的测试提供解决方案，提高了测试效率以及测试的便利性，大大降低了不良品率。 |
