一种基于IC键合引线的质量检测装置及方法
基本信息
| 申请号 | CN201910193313.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109975687A | 公开（公告）日 | 2019-07-05 |
| 申请公布号 | CN109975687A | 申请公布日 | 2019-07-05 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I; G01R31/02（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 梁付根; 李宝平; 朱绍德; 高云峰 | 申请（专利权）人 | 深圳市大族封测科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市恒申知识产权事务所（普通合伙） | 代理人 | 大族激光科技产业集团股份有限公司; 深圳市大族光电设备有限公司 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市南山区深南大道9988号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明适用于半导体封装工业技术领域，提供了一种基于IC键合引线的质量检测装置，包括主控模块、频率发生模块、第一数据转换模块、放线模块、有效值转换模块和第二数据转换模块；主控模块、频率发生模块、第一数据转换模块、放线模块、有效值转换模块和第二数据转换模块依次首尾连接，主控模块还与第一数据转换模块连接；其中，放线模块的一端与有效值转换模块通过引线线路连接，放线模块的另一端与IC的电极连接，形成检测闭合回路。通过本发明能够实时监控IC每条线路的焊接过程，避免IC中有引线失败导致IC功能失效的问题，与直流检测相比还提升了检测准确性、降低了电路的功耗。 |
