芯片的成型方法以及晶圆
基本信息
申请号 | CN202010122898.5 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN111298854B | 公开(公告)日 | 2021-08-06 |
申请公布号 | CN111298854B | 申请公布日 | 2021-08-06 |
分类号 | B01L3/00(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I | 分类 | 一般的物理或化学的方法或装置; |
发明人 | 聂泳忠;刘晓敏;林祖鉴;叶新文;许财源 | 申请(专利权)人 | 西人马联合测控(泉州)科技有限公司 |
代理机构 | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 臧静 |
地址 | 362000福建省泉州市洛江区双阳街道新南社区 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明涉及一种芯片的成型方法以及晶圆,芯片的成型方法包括如下步骤,提供阵列基板,包括底板、分布于底板的导槽以及多个具有孔道的芯片单元,导槽与各芯片单元的孔道连通;在阵列基板上键合盖板,以形成键合体;在键合体上设置注液孔组,注液孔组包括两个以上灌注孔,每个灌注孔沿底板的厚度方向延伸并与导槽连通,以形成待灌注体;由各灌注孔向待灌注体内灌注填充材料,使得填充材料填充于各芯片单元的孔道并固化,形成晶圆;切割晶圆并形成多个切割体,每个切割体包括芯片单元;去除各切割体的填充材料,以成型具有孔道的芯片。本发明能够满足芯片的切割成型要求,同时能够避免碎屑进入芯片的孔道内,保证芯片的性能。 |
