芯片亮度值测试的方法及系统专利查询专利号|摘要-满商公司网

芯片亮度值测试的方法及系统

基本信息

申请号	CN202010098120.5	申请日	-
公开（公告）号	CN111293050A	公开（公告）日	2020-06-16
申请公布号	CN111293050A	申请公布日	2020-06-16
分类号	H01L21/66(2006.01)I;H01L23/544(2006.01)I	分类	-
发明人	卢校;张海旭;林肖;王亚洲	申请（专利权）人	映瑞光电科技（上海）有限公司
代理机构	广州华进联合专利商标代理有限公司	代理人	映瑞光电科技（上海）有限公司
地址	200135上海市浦东新区泥城镇鸿音路1889号2楼
法律状态	-

摘要

本发明涉及一种芯片亮度值测试的方法及系统。该方法包括：分别B个芯片在第一圆片和方片上的亮度得到第一组亮度值和第二组亮度值；根据第二组亮度值和第一组亮度值中各个芯片对应的测试值的比值得到测试差值；对第一组亮度值和测试差值进行二次拟合获取芯片在第一圆片上的亮度值和测试差值之间的第一曲线；根据第一曲线和方片上的芯片M在圆片上的第一亮度值获取方片上的芯片M的第二亮度值；方片上排列的芯片的结构相同且相邻芯片之间的间距相同，圆片上芯片的结构和排布与第一圆片相同。通过第一曲线和芯片在圆片上亮度值获得芯片放置在方片上的亮度值后将圆片上的芯片贴在不同方片上，消除了圆片与方片上芯片之间的距离差异芯片亮度值的影响。