一种用于圆柱体表面缺陷高速检测设备的双回转机构
基本信息
申请号 | CN201720794214.X | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN206906270U | 公开(公告)日 | 2018-01-19 |
申请公布号 | CN206906270U | 申请公布日 | 2018-01-19 |
分类号 | G01N21/952 | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 程建民;程鑫 | 申请(专利权)人 | 北京和太升电子技术有限公司 |
代理机构 | 太原华弈知识产权代理事务所 | 代理人 | 梁丽丽 |
地址 | 030000 山西省太原市万柏林区和平南路115号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型涉及一种用于圆柱体表面缺陷高速检测设备的双回转机构,其特征在于包括上台板、第一回转机构和第二回转机构;所述第一回转机构包括孔盘分度盘,所述孔盘分度盘的孔盘上设有若干周转孔;所述第二回转机构由上顶紧机构和下顶起机构组成;所述上台板为一与地面平行设置的板面,所述第一回转机构的第一电机和同步带轮固定在上台板的下表面,所述第二回转机构的下顶紧机构的下气缸固定在上台板的下表面,本实用新型用于圆柱体表面缺陷高速检测设备的双回转机构,实现了一组回转机构将磁棒按顺序依次排布,到达指定位置后,另一组回转机构依次将磁棒旋转一周,通过检测装置对磁棒进行表面缺陷检测,实现全自动检测,生产效率高。 |
