一种峰值电流测试与修正方法及控制电路专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种峰值电流测试与修正方法及控制电路

基本信息

申请号	CN202111106438.4	申请日	-
公开（公告）号	CN113820534A	公开（公告）日	2021-12-21
申请公布号	CN113820534A	申请公布日	2021-12-21
分类号	G01R19/04（2006.01）I;G05F1/10（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	张胜;涂才根;谭在超;罗寅;丁国华	申请（专利权）人	苏州锴威特半导体股份有限公司
代理机构	南京众联专利代理有限公司	代理人	郭微
地址	215600江苏省苏州市张家港市沙洲湖科技创新园A-1幢9层
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种峰值电流测试与修正方法,所述方法包括以下步骤:1）将T1端口置为高电平,T2端口为低电平,在VIN管脚与SW管脚之间测得管N1的导通阻抗；2）将T1端口置为低电平，T2端口置为高电平，NMOS管N2处于导通状态；3）T2E端口通过控制LOGIC1电路将VG1始终置为低电平，电流基准Iref将在NMOS管N2的导通阻抗上产生电压降，观测OUT端口的电压，计算峰值电流；4）通过编程烧写，调整电流基准的大小，进而调整电流基准Iref在管N2的导通阻抗上产生的电压降。本发明解决了圆片CP测试时直接测试Ipk大电流的难题；本发明电路结构简单，在原有电路的基础上增加了少量的控制电路即可实现，实现成本低。