一种芯片热源分层的热模型建模方法
基本信息
申请号 | CN202110459672.9 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113158475A | 公开(公告)日 | 2021-07-23 |
申请公布号 | CN113158475A | 申请公布日 | 2021-07-23 |
分类号 | G06F30/20;G06F119/08 | 分类 | 计算;推算;计数; |
发明人 | 邓二平;陈杰;刘鹏;黄永章 | 申请(专利权)人 | 华电(烟台)功率半导体技术研究院有限公司 |
代理机构 | 烟台智宇知识产权事务所(特殊普通合伙) | 代理人 | 李彬 |
地址 | 264006 山东省烟台市开发区香港路16号华日工业园2号楼101号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本申请公开了一种芯片热源分层的热模型建模方法,涉及热模型仿真领域。将芯片分为两个面热源和一个体热源。第一面热源的芯片集电极侧PN结距离集电极表面非常近,该部分产生的热量定义在集电极表面,第二面热源的沟道区距离芯片发射极表面非常近,该部分产生的热量定义在发射极表面,在热模型中定义为面热源;体热源的基区厚度占整个芯片厚度的98%左右,该部分产生的热量定义在整个芯片有源区中,在热模型中定义为体热源。通过对芯片集电极侧PN结开启电压、芯片基区电阻和芯片发射极侧沟道区的电阻的提取。不需要进行复杂的半导体仿真,即可提高传统单一热源仿真模型的精度,实现了对仿真难度和精度的兼顾。 |
