一种芯片测试机构
基本信息
| 申请号 | CN202021485519.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213122195U | 公开（公告）日 | 2021-05-04 |
| 申请公布号 | CN213122195U | 申请公布日 | 2021-05-04 |
| 分类号 | G01R31/28;G01R1/04 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 庄渊胜;蔡江梁;王强 | 申请（专利权）人 | 东莞市千颖电子有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 523000 广东省东莞市高埗镇江城西路一街4号118室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及芯片检测技术领域，尤其是指一种芯片测试机构，包括输送带、上料组件和测试机，所述输送带两侧设置有滑动槽，所述上料组件内设置有多个测试板，所述测试机包括测试台、测试板安装槽和测试组件，所述测试组件安装于所述测试台上，所述测试板安装槽设置于所述测试台上部，所述测试板设置有多个芯片安装孔，所述测试板安装槽底部设置有多个测试器件，本实用新型在检测时，将检测芯片插于测试板内，再将带有测试板放置于上料组件内进行上料，通过输送带将测试板送入至测试板安装内，之后通过测试组件和测试台的配合对测试板内的芯片进行检测，本实用新型可自动上料，且一次性可检测多个芯片，有效的提高了芯片的检测效率。 |
