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一种芯片测试板

基本信息

申请号	CN202021485515.2	申请日	-
公开（公告）号	CN212845769U	公开（公告）日	2021-03-30
申请公布号	CN212845769U	申请公布日	2021-03-30
分类号	G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	庄渊胜;蔡江梁;王强	申请（专利权）人	东莞市千颖电子有限公司
代理机构	-	代理人	-
地址	523000广东省东莞市高埗镇江城西路一街4号118室
法律状态	-

摘要

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种芯片测试板，包括基板，还包括测试座、压紧部件和PCB板，所述测试座和所述PCB板分别与所述基板连接，所述测试座开设有用于放置待测芯片的放置槽，所述压紧部件位于所述放置槽上方，所述放置槽内设有顶针孔，所述顶针孔内放置有顶针，所述顶针与所述PCB板电性连接，所述PCB板设有排线座，所述排线座与一检测核心板连接，在使用本实用新型进行芯片测试时，将芯片放入测试座，通过压紧部件压紧，并通过检测核心板，对获得的检测信号直接进行传输和处理，高效准确的完成对芯片性能的检测，完成测试后，松开压紧部件，将芯片取出，其结构简单，操作和检测方便，避免焊接和拆装流程，测试效率高。