缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202110800459.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113256635A | 公开（公告）日 | 2021-08-13 |
| 申请公布号 | CN113256635A | 申请公布日 | 2021-08-13 |
| 分类号 | G06T7/00;G06T7/60;G06T7/73;G06T7/90;G06T3/40 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 刘晓龙 | 申请（专利权）人 | 武汉中导光电设备有限公司 |
| 代理机构 | 武汉智权专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 韩梦晴 |
| 地址 | 430000 湖北省武汉市武汉经济技术开发区高科技产业园16号楼4楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质，缺陷检测方法包括：采集不同制程工艺与尺寸的玻璃基板的图像，将图像进行预处理；将经过预处理后的图像按特征点对位拼接，得到各个不同制程工艺与尺寸对应的高分辨率图像；计算各个高分辨率图像上所有外围电路区域中像素点的灰度值的平均值和中位值得到各个不同制程工艺与尺寸玻璃基板对应的数值范围；根据待检测的玻璃基板选取相同制程工艺与尺寸对应的目标数值范围；若待检测的玻璃基板图像存在至少一个处于外围电路区域的目标像素点的灰度值不处于所述目标数值范围内，则待检测的玻璃基板有缺陷。通过本发明能适用于不同制程工艺的复杂外围电路区的缺陷检测，简化了参数设置。 |
