一种半导体ATE芯片测试机
基本信息
| 申请号 | CN201821781306.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN209417223U | 公开（公告）日 | 2019-09-20 |
| 申请公布号 | CN209417223U | 申请公布日 | 2019-09-20 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 田雄伟; 鲁斌; 谷陈鹏; 周文君 | 申请（专利权）人 | 嘉兴鹏武电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 嘉兴启帆专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 程开生 |
| 地址 | 200120 上海市浦东新区自由贸易试验区张东路1158号2幢4层（名义楼层5层）513室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种半导体ATE芯片测试机，包括PC计算机和PXI机箱，PC计算机包含有若干PCle板卡、PCle×8电缆连接器，PCle板卡的输出端连接有PCle×8电缆连接器，PCle×8电缆连接器的输出端连接有若干PXle板卡，PXle板卡位于PXI机箱的内部。本实用新型中通过PXI机箱和各种板卡的组合，P1可以很容易地提供先进的数字、模拟或RF测试能力，基于PXI的开放体系结构，P1提供了灵活和可扩展的解决方案，可以被配置成PA，LNA，Switch，Filter的射频测试应用的测试需求范围，是半导体ATE芯片测试的理想解决方案。 |
