高温老化测试系统
基本信息
| 申请号 | CN201610137595.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN105807157B | 公开（公告）日 | 2016-07-27 |
| 申请公布号 | CN105807157B | 申请公布日 | 2016-07-27 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 欧永明;吴大畏;李晓强 | 申请（专利权）人 | 绵存（浙江）科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 | 代理人 | 深圳市硅格半导体有限公司 |
| 地址 | 314200 浙江省嘉兴市平湖市曹桥街道勤安路198号研发大楼1201室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开一种高温老化测试系统，所述高温老化测试系统包括存储设备、高温箱，还包括供电板、控制电路；所述存储设备，用于存储写入的老化测试程序，以及在上电后自动执行所述老化测试程序；所述供电板，用于对连接其上的所述存储设备进行供电；所述高温箱，用于对放置在其内部且连接在所述供电板上的所述存储设备进行加热，以提供高温环境；所述控制电路，用于控制对所述供电板的供电。本发明实现了在高温老化测试中降低对资源的占用。 |
