训练人工智能估测存储装置的使用寿命的方法
基本信息
申请号 | CN201910022526.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN111427713A | 公开(公告)日 | 2020-07-17 |
申请公布号 | CN111427713A | 申请公布日 | 2020-07-17 |
分类号 | G06F11/00 | 分类 | - |
发明人 | 彭祥恩;吴昇翰 | 申请(专利权)人 | 深圳衡宇芯片科技有限公司 |
代理机构 | 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 深圳衡宇芯片科技有限公司 |
地址 | 518000 广东省深圳市南山区学府路263号大新时代大厦A座1106 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供一种训练人工智能估测存储装置的使用寿命的方法,包含:判断存储装置对多个位元值执行处理程序的运作参数是否小于运作临界参数值,若是,利用译码器译码存储装置所存储的位元值;判断译码器是否成功译码存储装置所存储的位元值,若是,分类存储装置的存储单元属于强正确区、弱正确区、强错误区或弱错误区;判断存储单元数量是否介于数量允许范围内,若否,启动人工智能类神经网络系统,使用机器学习估测存储装置的使用寿命时间。 |
