检测固态存储装置存储状态的方法
基本信息
| 申请号 | CN201810846776.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110739023A | 公开（公告）日 | 2021-07-02 |
| 申请公布号 | CN110739023A | 申请公布日 | 2021-07-02 |
| 分类号 | G11C29/12;G11C29/50 | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 彭祥恩;吴昇翰 | 申请（专利权）人 | 深圳衡宇芯片科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京律和信知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 武玉琴;冷文燕 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市南山区学府路263号大新时代大厦A座1106 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种检测固态存储装置存储状态的方法。所述方法包含以下步骤：施加多个感测电压至各个记忆单元；比对各个记忆单元的临界电压与多个感测电压，并据以定义存储状态，多个存储状态依记忆单元落在强正确区、弱正确区、强错误区或弱错误区来分类；计算在每一存储状态的记忆单元数量；计算强正确区的多个记忆单元数量，占强正确区与弱正确区总和的多个记忆单元数量的强正确比例；计算强错误区的多个记忆单元数量，占强错误区与弱错误区总和的多个记忆单元数量的强错误比例；以及基于强正确比例及强错误比例，产生对数概度比。 |
