用於决定非挥发性记忆体中位元值的方法与系统
基本信息
| 申请号 | TW107107412 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | TWI693604B | 公开（公告）日 | 2020-05-11 |
| 申请公布号 | TWI693604B | 申请公布日 | 2020-05-11 |
| 分类号 | G11C16/22;G11C29/50 | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 彭祥恩;袁笙维;李厚鋆 | 申请（专利权）人 | 深圳衡宇芯片科技有限公司 |
| 代理机构 | 李永钧 | 代理人 | 深圳衡宇芯片科技有限公司 |
| 地址 | 中国大陆 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明揭露一种用於决定具有数个记忆单元的一非挥发性记忆体位元值的方法与系统，其中每一记忆单元用於储存一位元值该方法包含步骤：a）提供一第一测试感测电压至该些记忆单元并计算单元计数；b）提供另一测试感测电压至该些记忆单元并计算本步骤与前步骤间单元计数的一差异量；c）提供再另一测试感测电压并计算本步骤与前步骤间单元计数的另一差异量；d）执行步骤c）N次；e）计算单元计数差额并指定索引数给每一群记忆单元；f）选择一电压为更新感测电压 |
