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相控阵超声检测用试块装置及超声波灵敏度校准方法

基本信息

申请号 CN202111270740.3 申请日 -
公开（公告）号 CN114397372A 公开（公告）日 2022-04-26
申请公布号 CN114397372A 申请公布日 2022-04-26
分类号 G01N29/30（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 季昌国;余超;刘畅 申请（专利权）人 北京华科同和科技有限公司
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 代理人 董骁毅;崔博
地址 100045北京市西城区复兴门外地藏庵南巷一号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供了一种相控阵超声检测用试块装置及超声波灵敏度校准方法，所述装置包含多个不同尺寸的试块按对应大小依序构成的阶梯型试块；所述阶梯型试块各阶梯上预设位置设置有不同深度的刻槽反射面，用于通过不同厚度的阶梯位置处的所述刻槽反射面对不同厚度的工件进行超声波灵敏度校准；所述试块为不同厚度的矩形块，所述刻槽反射面设置于所述阶梯型试块各阶梯的阶梯面上预设位置，或所述试块为不同直径的半圆柱体，所述刻槽反射面设置于所述阶梯型试块各阶梯的圆截面上预设位置。