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eMMC老化测试电路

基本信息

申请号	CN202021558214.8	申请日	-
公开（公告）号	CN212905071U	公开（公告）日	2021-04-06
申请公布号	CN212905071U	申请公布日	2021-04-06
分类号	G01R1/36(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	李斌	申请（专利权）人	深圳市宏旺微电子有限公司
代理机构	深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司	代理人	林国友
地址	518000广东省深圳市南山区沙河街道华侨城创意文化园开平街2号G2栋2楼
法律状态	-

摘要

本申请提供了一种eMMC老化测试电路，运用于老化测试技术领域，通过短路保护电路、电压转换电路、震荡器电路和逻辑电路，还包括电源DC、电路接口J144，所述电源DC的输出端接入短路保护电路，所述短路保护电路的输出端接入电压转换电路，所述电压转换电路的输出端接入震荡器电路，所述震荡器电路的输出端接入逻辑电路，所述逻辑电路与各个测试座子连接；所述短路保护电路包括第一短路保护电路和第二短路保护电路；具备解决目前老化测试电路所不能解决的自身缺少短路保护特性，通过外围电路增加保险丝起到过流保护，发生过流后，保险丝永久性熔断，此电路永久性失效、PCB板必须根据高温老化机空间设计才能增加量产数量、局限较大的技术问题。