一种存储芯片故障检测方法
基本信息
| 申请号 | CN202011139215.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112817802A | 公开（公告）日 | 2021-05-18 |
| 申请公布号 | CN112817802A | 申请公布日 | 2021-05-18 |
| 分类号 | G06F11/22;G06F11/263 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 周文蓉;戴洋洋;陈宗廷;李斌 | 申请（专利权）人 | 深圳市宏旺微电子有限公司 |
| 代理机构 | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 赵倩 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市南山区沙河街道华侨城创意文化园开平街2号G2栋2楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请涉及芯片检测技术领域，提供了一种存储芯片故障检测方法，该方法包括：依次在第一存储单元中写入第一数据、在第二存储单元中写入第二数据、在第三存储单元中写入第三数据，第一存储单元、第三存储单元为存储芯片中与第二存储单元相邻的存储单元；读取第二存储单元中的数据，判断第二存储单元中读取的数据与第二数据是否相同；在第二存储单元中读取的数据与第二数据不相同，且第二存储单元中读取的数据与第一数据或者第三数据相同的情况下，存储芯片发生故障。本申请提供的方法，可以确定第二存储单元受到了第一存储单元或者第三存储单元的影响，确定存储芯片发生邻域模式敏感故障，从而提高故障覆盖率。 |
