主控芯片与存储芯片兼容性的测试电路
基本信息
| 申请号 | CN202021524254.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213024374U | 公开（公告）日 | 2021-04-20 |
| 申请公布号 | CN213024374U | 申请公布日 | 2021-04-20 |
| 分类号 | G06F11/22(2006.01)I;G06F11/263(2006.01)I;G11C29/56(2006.01)I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 李斌 | 申请（专利权）人 | 深圳市宏旺微电子有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司 | 代理人 | 林国友 |
| 地址 | 518000广东省深圳市南山区沙河街道华侨城创意文化园开平街2号G2栋2楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请提供了一种主控芯片与存储芯片兼容性的测试电路，运用于存储芯片测试技术领域，将XU4平台、主控芯片和存储芯片均安装于同一电路中进行内部走线的测试，测试电路包括XU4平台模块和测试平台模块，通过XU4平台模块和测试平台模块电流及数据传导，以解决XU4平台通过外部接线的方式传输信号至主控芯片和NAND Flash时速率过慢的技术问题，排除外接信号线的使用，提升数据传输速率。 |
