一种DDR芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202110753489.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113466664A | 公开（公告）日 | 2021-10-01 |
| 申请公布号 | CN113466664A | 申请公布日 | 2021-10-01 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I;G01R31/317（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 魏佳辉;刘敏;戴洋洋;陈宗廷;李斌 | 申请（专利权）人 | 深圳市宏旺微电子有限公司 |
| 代理机构 | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 夏智海 |
| 地址 | 518000广东省深圳市南山区沙河街道华侨城创意文化园开平街2号G2栋2楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请提供了一种DDR芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质，涉及芯片测试技术领域。DDR芯片测试装置与控制设备连接，DDR芯片测试装置包括测试平台和机械臂；测试平台上设置有至少一个用于测试待测芯片的测试位，控制设备用于控制机械臂将待测芯片放置在测试位，并用于控制测试平台对待测芯片进行测试，以及用于根据测试平台对待测芯片的测试结果控制机械臂将待测芯片移动到与测试类型对应的指定位置。基于本申请提供的DDR芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质，可以提高DDR芯片的测试效率。 |
