一种面板检测电子信号缺陷判定的方法和系统
基本信息
| 申请号 | CN202111462631.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113870754B | 公开（公告）日 | 2022-03-11 |
| 申请公布号 | CN113870754B | 申请公布日 | 2022-03-11 |
| 分类号 | G09G3/00（2006.01）I;G02F1/13（2006.01）I | 分类 | 教育；密码术；显示；广告；印鉴; |
| 发明人 | 查世华;杨义禄;李波;左右祥;关玉萍;曾磊 | 申请（专利权）人 | 中导光电设备股份有限公司 |
| 代理机构 | 广州维智林专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 赵晓慧 |
| 地址 | 526238广东省肇庆市高新区北江大道20号之一 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种面板检测电子信号缺陷判定的方法和系统，所述方法包括以下步骤：首先检测时获取缺陷大图像，其次计算待处理图像的最小灰度值，初判缺陷类型，然后计算待处理图像的直方图，接着计算低灰阶像素数目达到缺陷图像总像素数设定比例时的最大灰度值，最后根据最大灰度值和设定的电子信号缺陷阈值比较判定是否为电子信号缺陷。本发明的有益效果是：实时采集图像，针对检测出来的缺陷实时进行判断。其次，根据应用过程中测得电子信号为低频信号，以此为根据设定电子信号缺陷阈值为低阈值。第三，简化电子信号缺陷判定的流程。第四，对电子信号缺陷与其他缺陷混合在一起具有较好的区分度。进一步扩展应用，可以用于缺陷的分类等。 |
