一种基于纹理特征的液晶面板外围电路检测方法和系统
基本信息
| 申请号 | CN202111404638.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113822893B | 公开（公告）日 | 2022-03-11 |
| 申请公布号 | CN113822893B | 申请公布日 | 2022-03-11 |
| 分类号 | G06T7/00（2017.01）I;G06T5/00（2006.01）I;G06V10/25（2022.01）I;G06V10/44（2022.01）I;G06V10/764（2022.01）I;G06K9/62（2022.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 关玉萍;杨义禄;左右祥;查世华;李波;曾磊 | 申请（专利权）人 | 中导光电设备股份有限公司 |
| 代理机构 | 广州维智林专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 赵晓慧 |
| 地址 | 526238广东省肇庆市高新区北江大道20号之一 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种基于纹理特征的液晶面板外围电路检测方法，包括：获取待检测样本图像；对待检测样本图像进行预处理，包括：根据输入的区域标定信息，获取需要检测的感兴趣区域图像，对获取到的感兴趣区域图像做滤波处理，去除图像中的噪声，得到参考图像，将参考图像和待检测样本图像做坐标对位；将预处理后的待检测样本图像做灰度等级化处理，得到灰度等级化矩阵；根据灰度等级化矩阵提取方向纹理特征矩阵，并计算特征向量；计算每个检测点的特征向量与参考数据的特征向量的距离，参考数据为参考图像中与检测点对应的参考点；通过距离判断当前检测点是否异常。本发明基于纹理特征进行异常性检测，可以有效抗光照、膜色差异，具有较好稳定性。 |
