一种基于最近邻算法的液晶屏幕缺陷检测方法和系统
基本信息
| 申请号 | CN202111374008.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113808136B | 公开（公告）日 | 2022-02-22 |
| 申请公布号 | CN113808136B | 申请公布日 | 2022-02-22 |
| 分类号 | G06T7/00（2017.01）I;G06T7/73（2017.01）I;G06V10/44（2022.01）I;G06V10/764（2022.01）I;G06K9/62（2022.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 左右祥;杨义禄;关玉萍;查世华;李波;曾磊 | 申请（专利权）人 | 中导光电设备股份有限公司 |
| 代理机构 | 广州维智林专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 赵晓慧 |
| 地址 | 526238广东省肇庆市高新区北江大道20号之一 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种基于最近邻算法的液晶屏幕缺陷检测方法和系统。该方法包括以下步骤：根据采集到的已知无缺陷液晶屏幕的图像计算图像的角点信息；根据所述角点信息计算非缺陷角点位置的统计特性；根据所述非缺陷角点位置的统计特性，利用最近邻算法计算待检测屏幕的缺陷位置。完成对液晶屏幕的缺陷检测。本发明基于视觉图像处理技术，通过最近邻算法实现对液晶屏幕的缺陷检测，精度高，速度快，鲁棒性好。 |
