一种可调节测试通道的测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202210452359.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114545191A | 公开（公告）日 | 2022-05-27 |
| 申请公布号 | CN114545191A | 申请公布日 | 2022-05-27 |
| 分类号 | G01R31/26（2014.01）I;H05K7/20（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I;H01L21/66（2006.01）I;H01L33/00（2010.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 吴浩;高海峰;王瑞朋 | 申请（专利权）人 | 深圳市西渥智控科技有限公司 |
| 代理机构 | 长沙都创云天知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 518000广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区龙城工业园留学人员（龙岗）创业园332-333室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种可调节测试通道的测试装置，包括机箱、总线背板、主卡以及多个卡槽结构与功能卡，所述总线背板安装在所述机箱内，所述卡槽结构插入所述机箱内，每个所述功能卡装载在对应的一个所述卡槽结构上，并通过所述总线背板与所述主卡信号连接；其中，所述功能卡的数量小于或者等于所述卡槽结构的数量，每个所述功能卡具有多个测试通道；依据测试要求配置所述功能卡的数量，以将每个所述测试通道配置为与一个外置的探针卡信号连接。本发明提供的技术方案解决相关技术中测试装置测试效率低、兼容性差且容易造成资源浪费的技术问题。 |
