一种电源芯片低噪声特性测试装置
基本信息
| 申请号 | CN201811535481.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109471019B | 公开（公告）日 | 2021-10-19 |
| 申请公布号 | CN109471019B | 申请公布日 | 2021-10-19 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I;G01R31/40（2014.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 孙泉;齐敏;万中强 | 申请（专利权）人 | 江苏集萃微纳自动化系统与装备技术研究所有限公司 |
| 代理机构 | 苏州市中南伟业知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 曹成俊 |
| 地址 | 215100江苏省苏州市相城区高铁新城环秀湖大厦（原怡城园艺）南三、四楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种电源芯片低噪声特性测试装置，包括被测电源芯片；与被测电源芯片连接的工频信号陷波电路；与所述工频信号陷波电路连接的可调节增益的低噪声放大器；与所述低噪声放大器连接的单端输入转差分输入电路；与所述单端输入转差分输入电路连接的差分输入高精度数模转换器；与所述差分输入高精度数模转换器连接的处理单元；所述处理单元与电平转换器连接，所述电平转换器与数据接收设备连接的技术方案，本发明可用于电源芯片低噪声特性的测试。 |
