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接口测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质

基本信息

申请号 CN201811041574.8 申请日 -
公开（公告）号 CN109254920A 公开（公告）日 2019-01-22
申请公布号 CN109254920A 申请公布日 2019-01-22
分类号 G06F11/36（2006.01）I 分类 计算；推算；计数;
发明人 潘林圣; 侍小欣 申请（专利权）人 上海精数信息科技有限公司
代理机构 上海隆天律师事务所 代理人 上海精数信息科技有限公司
地址 200333 上海市普陀区真北路958号20幢1354室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种接口测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质。方法包括：获取待测试接口的接口配置信息，所述配置信息包括至少一个栏位的栏位值设定；依据栏位的栏位值设定生成有效栏位值列表和无效栏位值列表，所述有效栏位值列表中的有效栏位值符合所述栏位值设定，所述无效栏位值列表中的无效栏位值不符合所述栏位值设定；遍历所述有效栏位值列表生成正面测试用例；遍历所述无效栏位值列表生成负面测试用例；以及组合所述待测试接口的各栏位的正面测试用例及负面测试用例，生成待测试接口的接口测试用例列表。本发明提供的方法及设备自动生成并维护测试用例，减少重复的劳动，减轻测试人员的日常工作负担，用以节省不必要的维护成本。