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耐高压测试座

基本信息

申请号 CN202220434110.9 申请日 -
公开（公告）号 CN216926987U 公开（公告）日 2022-07-08
申请公布号 CN216926987U 申请公布日 2022-07-08
分类号 G01R31/12（2006.01）I;G01R31/00（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 王双;王毅 申请（专利权）人 扬州扬杰电子科技股份有限公司
代理机构 扬州市苏为知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 -
地址 225008江苏省扬州市邗江区平山堂北路江阳创业园三期
法律状态 -

摘要

摘要 耐高压测试座，涉及半导体产品测试技术领域。包括顶部设有与贴片二极管适配的开口座体；一对所述测试片固定对称设置在所述座体内，与贴片二极管的引脚相适配；电磁阀固定设置在座体的底部，并通过气管与座体的内腔连通；触发杆通过弹簧活动限设在所述座体上。测试的吸嘴将被测产品吸起，压于一对测试片上，下压过程中，触发杆向下移动，触发电磁阀工作，释放N2在测试座中，在测试片的周围形成惰性气体保护，通过测试座四周遮挡，减少N2的流失，当产品接触到测试片的时候，仪表进行高压测试，测试完成后，吸嘴上提将材料转移到一下工位。本实用新型具有结构紧凑、提高测试的安全性和准确性等特点。