用于制造p型半导体结构的方法

基本信息

申请号 CN200710112585.6 申请日 -
公开(公告)号 CN101330118B 公开(公告)日 2010-06-09
申请公布号 CN101330118B 申请公布日 2010-06-09
分类号 H01L33/00(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 江风益;王立;方文卿;莫春兰 申请(专利权)人 中国农业银行股份有限公司南昌高新支行
代理机构 北京市金杜律师事务所 代理人 晶能光电(江西)有限公司
地址 330047 江西省南昌市南京东路235号南昌大学北区(材料科学研究所)
法律状态 -

摘要

摘要 本发明的一个实施例提供了一种用于制造III-V族p型氮化物结构的方法。该方法包括在第一生长环境中生长具有第一受主浓度的第一层p型III-V族材料。该方法还包括在第二生长环境中在第一层的顶部上生长第二层p型III-V族材料,其比第一层厚并且其具有第二受主浓度。另外,该方法包括在第三生长环境中在第二层的顶部上生长第三层p型III-V族材料,其比第二层薄并且其具有第三受主浓度。