用于内建自测试的方法和设备
基本信息
| 申请号 | CN201780088151.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110446935B | 公开（公告）日 | 2021-09-14 |
| 申请公布号 | CN110446935B | 申请公布日 | 2021-09-14 |
| 分类号 | G01R31/28 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陆明;姜培;马建旭;白睿;陈学峰;王俊成 | 申请（专利权）人 | 光梓信息科技（上海）有限公司 |
| 代理机构 | 北京市浩天知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 王广涛 |
| 地址 | 201203 上海市浦东新区亮秀路112号Y1座710室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及与内建自测试(BIST)有关的方法、设备和编程，公开了一种用于内建自测试的方法和设备。其中，一种用于内建自测试的设备包括：基板上的一个或多个非时钟和数据恢复(CDR)部件；所述基板上的信号发生器，所述信号发生器耦接到所述一个或多个非CDR部件中的至少一个；以及所述基板上的CDR部件，所述CDR部件耦接到所述一个或多个非CDR部件，其中所述CDR部件被配置为通过所述CDR部件从接收到的信号恢复时钟数据，并且被配置为基于所述接收到的信号和所述时钟数据来确定信号。 |
