基于MCU存储器可重用性验证系统及方法
基本信息
| 申请号 | CN202110137789.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112948200A | 公开（公告）日 | 2021-06-11 |
| 申请公布号 | CN112948200A | 申请公布日 | 2021-06-11 |
| 分类号 | G06F11/263;G06F11/273 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 马剑武;关彬;谷洪波;李双飞 | 申请（专利权）人 | 湖南品腾电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 长沙轩荣专利代理有限公司 | 代理人 | 李喆 |
| 地址 | 410000 湖南省长沙市高新开发区旺龙路56号1栋工业用房（软件生产楼）101号601-603 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种基于MCU存储器可重用性验证系统及方法，包括：MCU、固件、时钟发生器、复位发生器、激励发生器、功能完备和检测器模块和存储体。本发明所述的基于MCU存储器可重用性验证系统及方法，验证固件固定化，保证时效性，能进行基本完备性保证，通过端口和间接寻址配合实现系统级存储体验证的随机化，整体验证系统占用资源极低，避免了系统级验证错综复杂的环境条件导致定位困难，随机化端口时序，简单明了且极具扩展性，整体验证架构可重用性高，进行其他功能模块验证时，只需修改激励发生器和固件，并对功能完备性和正确性由机制确保。 |
