普通单色光测距的系统和方法及其应用
基本信息
| 申请号 | CN200610090996.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN101101334B | 公开（公告）日 | 2012-07-18 |
| 申请公布号 | CN101101334B | 申请公布日 | 2012-07-18 |
| 分类号 | G01S17/08(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李代甫 | 申请（专利权）人 | 中国工商银行股份有限公司北京昌平支行 |
| 代理机构 | 北京清亦华知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 北京紫贝龙科技有限责任公司;北京紫贝龙科技股份有限公司 |
| 地址 | 100096 北京市海淀区西三旗建材城西路31号B座 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 提供一种普通单色光测距的系统和方法，该系统包括用于发射光信号的发光器件、涂有具有回归反光特性高反射率材料的被测物体、用于接收反射光信号的光电器件、以及一个通过光的传播时间测量光路长度的电路系统。其中，所述发光器件将电路系统提供的电信号转换成光信号，并将光信号发射向被测物体；所述被测物体上涂有的具有回归反光的特性的高反射率材料使光信号主要沿原路返回；所述光电器件将接收反射的光信号转变成电信号；所述电路系统通过测量光信号从发光器件发出到光电器件接受到的时间差，计算出光路的距离。其大大地提高了测距的准确度。通过普通单色光测距，可以降低系统的实现成本，还可以极大地改进其性能。 |
