一种基于真空杜瓦系统的红外测量仪
基本信息
申请号 | CN201811259495.4 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN109357773A | 公开(公告)日 | 2019-02-19 |
申请公布号 | CN109357773A | 申请公布日 | 2019-02-19 |
分类号 | G01J5/02 | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 庞伟伟;李威;方翠翠;史秀丽;王梦冉 | 申请(专利权)人 | 合肥中科九衡科技有限公司 |
代理机构 | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 合肥中科九衡科技有限公司 |
地址 | 230000 安徽省合肥市高新区习友路2666号中科院合肥技术创新工程院研发楼1101室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种基于真空杜瓦系统的红外测量仪,包括PC端、窄带干涉滤光片、光学系统、斩波器、信号处理电路、热释电探测器、信号采集模块、微处理器、LCD显示模块、真空杜瓦探头,所述微处理器与PC端连接,其中:所述真空杜瓦探头安装在所述窄带干涉滤光片的前端;所述真空杜瓦探头与所述窄带干涉滤光片接触,真空杜瓦探头可以为窄带干涉滤光片提高有效的低温环境,由于所述窄带干涉滤光片与光学系统的外壳均为金属材料,导热效率高,通过真空杜瓦探头提高热量的导出,且由于是真空环境,真空杜瓦探头上不会出现低温冷凝现象。 |
