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一种基于双队列的容错测量方法

基本信息

申请号 CN201010521783.X 申请日 -
公开（公告）号 CN102012242A 公开（公告）日 2011-04-13
申请公布号 CN102012242A 申请公布日 2011-04-13
分类号 G01D21/00(2006.01)I;G01G17/08(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 严明;张跃辉;杨斌 申请（专利权）人 湘潭及湘工程有限责任公司
代理机构 湘潭市汇智专利事务所 代理人 湘潭三丰电子科技有限公司
地址 411101 湖南省湘潭市高新区创新大厦1202室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明属于自动控制技术领域，具体涉及一种对外部物理量的基于双队列的容错测量方法。本方法采用双队列存放测量数据，根据有效性判断和兼容性判断的方法进行测量。物理量的测量采用高精度快速多次采样取均值的方法消除随机误差，提高测量精度。测量结果进入队列之前进行有效性判断，根据设定动态随机误差范围，判断结果是否有效，用于消除一次随机事件干扰。当出现连续两次随机事件干扰并已被采样队列记录时，测量结果进入候补队列，并最终给出正确的测量结果。该测量方法能够消除正态分布特征的随机误差，排除一次随机错误，并在容许连续两次随机错误的情况下正确测量物理量。本发明方法可普遍适用于具有动态随机误差特性的物理量的测量。