集成电路扫描测试的方法及系统
基本信息
| 申请号 | CN202110844436.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113589153A | 公开（公告）日 | 2021-11-02 |
| 申请公布号 | CN113589153A | 申请公布日 | 2021-11-02 |
| 分类号 | G01R31/3185（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 杨文彬;万郁葱;陈志军 | 申请（专利权）人 | 苏州旗芯微半导体有限公司 |
| 代理机构 | 南京艾普利德知识产权代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 陆明耀 |
| 地址 | 215000江苏省苏州市虎丘区高新区金山东路78号集成电路产业创新中心213室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种集成电路扫描测试的方法和系统，所述方法包括如下步骤：步骤S1，将待扫描测试集成电路中所有扫描模式的控制寄存器连成一条独立的扫描链，为第一扫描链；步骤S2，为每个扫描模式的控制寄存器复制一个影子寄存器,将所有影子寄存器连成第二扫描链；步骤S3，将待扫描测试集成电路中所有其他寄存器连成第三扫描链；步骤S4，增加一个扫描切换寄存器，配置至少两种测试向量，用于扫描切换；步骤S5，输入测试数据，由所述扫描切换寄存器配合对所述第一扫描链、第二扫描链和第三扫描链进行切换扫描测试，输出测试后数据，完成对集成电路的扫描测试。本发明所述集成电路扫描测试的方法及系统，提高了测试覆盖率。 |
