一种二极电子元器件的检测装置
基本信息
申请号 | CN201620708907.8 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN205898962U | 公开(公告)日 | 2017-01-18 |
申请公布号 | CN205898962U | 申请公布日 | 2017-01-18 |
分类号 | G01R31/26(2014.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 高景旭;李龙刚;何康 | 申请(专利权)人 | 陕西恒太电子科技有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 710065 陕西省西安市新城区西五路42号三楼内 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型公开了一种二极电子元器件的检测装置,包括基座、定位座和测试针组件,测试针组件由固定针和活动针组成,活动针的外侧设有间距调整座,定位座呈由压板和拉板组成的L型结构,压板中开设有下穿孔和下活动槽;间距调整座包括方型柱和活动板,方型柱开设有内孔,方一侧部连接有限位件;基座上开设有定位槽、上穿孔、上活动槽、侧槽和限位槽。本实用新型结构简单,通过将测试针组件设置成固定针和活动针,并利用带推板的活动座来进行两者间距离的调整,调整方便快捷,满足不同类型极电子元器件的检测需求。 |
