一种数字芯片自动化测试机
基本信息
| 申请号 | CN202122194959.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN216052059U | 公开（公告）日 | 2022-03-15 |
| 申请公布号 | CN216052059U | 申请公布日 | 2022-03-15 |
| 分类号 | G01R31/317（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 魏亨儒;刘雄丰 | 申请（专利权）人 | 深圳市汤诚科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 518102广东省深圳市宝安区西乡街道共乐社区共和工业路明月花都F栋1009 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种数字芯片自动化测试机，涉及芯片测试技术领域，包括箱体，所述箱体上设置有顶板，所述箱体内部设置有多个夹持组件，所述夹持组件用于夹持待测芯片，每个所述夹持组件分别包括一组夹持板及驱动机构，所述驱动机构用于驱动两所述夹持板相向运动夹持芯片，所述顶板上开设有与夹持组件数量一致的工作槽，每个所述夹持组件在对应的工作槽内运动，所述顶板上竖直向上滑动设置有测试装置。通过箱体、夹持组件、夹持板、驱动机构、工作槽、测试装置之间的配合，通过驱动机构驱动两个夹持板相向运动，通过夹持板对芯片夹持，在利用测试装置对芯片进行测试的过程中，芯片不会出现晃动的情况，从而提高该测试装置结果的准确性。 |
