一种芯片测试用抵压装置及其抵压方法
基本信息
| 申请号 | CN202111490690.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113900016B | 公开（公告）日 | 2022-02-18 |
| 申请公布号 | CN113900016B | 申请公布日 | 2022-02-18 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 熊爱娣 | 申请（专利权）人 | 深圳市汤诚科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳倚智知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 霍如肖 |
| 地址 | 518000广东省深圳市宝安区西乡街道共乐社区共和工业路明月花都F栋1009 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及芯片测试技术领域，尤其是一种芯片测试用抵压装置及其抵压方法，包括测试台，测试台的顶部转动连接有转轴，转轴的底端贯穿测试台顶部并延伸至测试台下方连接有间歇转动机构，间歇转动机构用于转轴在固定的时间内转动相同的角度；本技术方案使芯片在测试的过程中，只有在转动到芯片测试探针头下方待测试的间歇过程中进行抵压固定，有效的减少了抵压固定的时间，有利于防止芯片上的导电触片由于长期固定而造成过渡磨损，降低了了芯片测试过程中由于固定时间长而被损坏的风险。 |
