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一种石墨烯纳米带的表面温度测试电路和测试方法

基本信息

申请号 CN201310078393.3 申请日 -
公开（公告）号 CN103148952B 公开（公告）日 2014-10-22
申请公布号 CN103148952B 申请公布日 2014-10-22
分类号 G01K7/20(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 谢华清;陈立飞;于伟 申请（专利权）人 上海二工大资产经营有限公司
代理机构 上海天翔知识产权代理有限公司 代理人 吕伴
地址 201209 上海市浦东新区金海路2360号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种石墨烯纳米带的表面温度测试电路和测试方法，所述测试电路包括标准电阻和与标准电阻串联的石墨烯纳米带，石墨烯纳米带的两端设置有第二数字万用表，标准电阻两端设置有第一数字万用表，第一数字万用表和第二数字万用表均连接在一台计算机上，测试电路还包括恒流电源，恒流电源一端连接在石墨烯纳米带上，另一端通过一开关连接在标准电阻上。本发明依据石墨烯纳米带电阻在宽的温度范围内随温度升高成线性递减关系的实验发现，通过标定石墨烯纳米带的电阻温度系数，结合石墨烯纳米带柔软、易贴附且与表面结合紧密的特点，实现基于石墨烯纳米带的表面温度测试。本发明具有高灵敏度，实时在线，仅需常规电测试装置等优点。