一种接收机芯片的测试方法和装置
基本信息
| 申请号 | CN201610251279.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN106027172B | 公开（公告）日 | 2021-05-04 |
| 申请公布号 | CN106027172B | 申请公布日 | 2021-05-04 |
| 分类号 | H04B17/29;H04L1/20 | 分类 | 电通信技术; |
| 发明人 | 梅张雄;程晟 | 申请（专利权）人 | 北京联盛德微电子有限责任公司 |
| 代理机构 | 北京中誉至诚知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 霍丽惠 |
| 地址 | 100044 北京市海淀区上园村3号交大知行大厦七层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种接收机芯片的测试方法和装置，包括：标准芯片根据第一测试项向待测芯片发射测试速率下的信号；所述标准芯片接收所述待测芯片反馈的误码率BER，并且当所述BER高于预设阈值时，判断为第一测试项测试通过。根据本发明提供的接收机芯片的测试方法和装置，利用芯片发射和接收待测芯片的信号并进行解析，从而取代传统校准和测试模式中的仪器，并通过固件实现校准和测试的自动化。 |
