一种基于IEEE1149和IEEE1500标准的层次化SoC测试方案
基本信息
| 申请号 | CN202110649053.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113433448A | 公开（公告）日 | 2021-09-24 |
| 申请公布号 | CN113433448A | 申请公布日 | 2021-09-24 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 梅张雄;程晟;邱芬 | 申请（专利权）人 | 北京联盛德微电子有限责任公司 |
| 代理机构 | 北京中誉至诚知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 张平力 |
| 地址 | 100037北京市海淀区阜成路67号17层1802 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种基于IEEE1149和IEEE1500标准的层次化SoC测试方案，涉及SoC芯片测试领域；其中，IEEE1500标准协议用于独立的进行SoC内部单个嵌入式内核测试，通过在嵌入式内核与系统之间定义内核测试接口来标准化IP内核测试结构，以便通过内核访问机制促进内核的测试复用；同时有效完成内核的测试和隔离，分区测试块之间的切换，达到完整测试SoC的目的；本发明通过改进IP内核集成的外围电路，实现层次化SoC中内核外核并行同步测试，最终达到减少测试时间的目的；可以为大型SoC产品提供灵活和高效率的设计方案。 |
