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利用X光检测平面玻璃内部缺陷的设备

基本信息

申请号 CN201420866180.7 申请日 -
公开（公告）号 CN204346952U 公开（公告）日 2015-05-20
申请公布号 CN204346952U 申请公布日 2015-05-20
分类号 G01N23/02(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 樊晖 申请（专利权）人 东莞市松菱玻璃防爆技术有限公司
代理机构 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 代理人 周详
地址 523808 广东省东莞市松山湖科技产业园区松科苑8号316号房
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及检测设备技术领域，特别是一种利用X光检测平面玻璃内部缺陷的设备；包括机台，所述机台上设置有输送带，所述机台中部上方设置有X射线发射器，在所述X射线发射器的正下方设置有线性阵列探测器，所述线性阵列探测器固定安装在所述输送带的下方；通过设置X射线发射器和线性阵列探测器，玻璃通过X射线发射器的下方时，线性阵列探测器上会接受到信号，若玻璃内部有NiS等异物则线性阵列探测器接收到的信号强度会有变化，从而能快速、高效地检测出含有NiS异物的玻璃。