一种高压LED芯片的深刻蚀方法
基本信息
申请号 | CN202011163378.5 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN112349818B | 公开(公告)日 | 2022-02-22 |
申请公布号 | CN112349818B | 申请公布日 | 2022-02-22 |
分类号 | H01L33/08(2010.01)I;H01L33/06(2010.01)I;H01L33/00(2010.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 黄斌斌;罗坤;李永同;李运军;刘兆 | 申请(专利权)人 | 江西乾照光电有限公司 |
代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人 | 李晓光 |
地址 | 330103江西省南昌市新建区望城新区宁远大街1288号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供了一种高压LED芯片的深刻蚀方法,采用两次匀胶两次曝光两次显影等操作之后,以具有所述预设角度斜面的正性光刻胶为掩膜,对所述高压LED芯片的桥接处和所述切割道进行深刻蚀处理,以及以具有垂直面的负性光刻胶为掩膜,对所述高压LED芯片的非桥接处同时进行深刻蚀处理。实现了一次深刻蚀出不同角度和不同线宽的隔离沟槽,以及在不改变切割道宽度的情况下实现全刻开处理,且具有一定的倒角,从而有效增加了高压LED芯片的发光面积占比,增加芯片的出光效率以及COW无需设置特殊测试芯片。 |
